скачать рефераты
  RSS    

Меню

Быстрый поиск

скачать рефераты

скачать рефератыДипломная работа: Комплект технологической документации по оптической контактной литографии

2. После проявления и полимеризации фоторезиста п. 8 описания технологического процесса, контроль рельефа в пленке фоторезиста проводим визуально под микроскопом. Проверяя всю рабочую поверхность подложки с имеющимися на ней элементами рисунка из пленки фоторезиста. Контролируются следующие основные критерии качества пленки: чистота рабочего поля пленки фоторезиста, наличие проколов и их количество, геометрические размеры элементов рельефа, неполное удаление фоторезиста в окнах, искажение формы элементов рисунка, наличие ореола и клина в рельефе рисунка. При обнаружении того или иного дефекта в пленке фоторезиста проводят анализ возможных причин его появления. После этого составляют план мероприятий по доработке отдельных технологических операций.

3. После удаления фотомаски п. 11 описания технологического процесса, контроль рельефа в подложки проводим визуально под микроскопом. Контролируя рабочую поверхность на соответствие ее топологии и геометрии элементов плану. Контролируются следующие основные критерии качества: наличие каверн, разрывов и их количество, геометрические размеры элементов рельефа; неполное удаление фотомаски, искажение формы элементов рисунка, наличие сужений, утолщений и изменений глубины рисунка. При обнаружении того или иного дефекта в пленке фоторезиста проводят анализ возможных причин его появления. После этого составляют план мероприятий по доработке отдельных технологических операций.

1 I
МГОУ 605124 605124 ВТД
Пластина 0
С НПП Обозначение ДСЕ Наименование ДСЕ кп
Ф НПП Обозначение комплекта ТД Наименование комплекта ТД листов
Г Обозначение ТД Услов. обозн. Лист Листов Примечание
Ф 1 605124 Пластина 9
Ф 2 605124 ТЛ Титульный лист 1
Ф 3 605124 ВО Ведомость оборудования 1
4
5
6 Сборочные единицы
7
С 8 605124 Пластина
Г 9 605124 МК 4
Г 10 605124 ОК 1
Г 11 605124 ОКУ 3
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
Разраб.
Н. контр.
ВТД /ВДП

Ведомость технологической документации

2 1
МГОУ 605124 605124 ВО
0
С НПП Обозначение ДСЕ Наименование ДСЕ кл
В Цех уч. РМ Опер. Код, наименование операции
Т опер. Обозначение ТО Кол Наименование ТО
Д НПП Код, наименование оборудования
С 1 605124 Пластина
2
Т 3 ADT 976 Установка отмывки OSTEC
Д 4 EVG 101 Установка нанесения, проявления и снятия фоторезиста OSTEC
Д 5 HP 150 Установка сушильная Sawatec
Д 6 EVG 620 Установка совмещения и экспонирования OSTEC
Т 7 БАВнп-01 1, 2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"
Т 8

ТУ 64-1-37-78 Пинцет ПС 160 3.О

Т 9 ТУ 3-3.1210-75М Микроскоп инспекционный Nikon Eclipse L200A
Т 10 ВТМ 4.189. 017 Тара для хранения пластин
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
Разраб.
Н. контр.
ВО/ВОБ

Ведомость оборудования

3 1
МГОУ 605124 605124 МК
В Цех УЧ. РМ Опер. Код, наименование операции
Г Обозначение документа
Д Код, наименование оборудования
Е см проф Р УТ КР КОИД ЕН ОП К шт Тпз Т шт
Л/М Наименование детали, сб. единицы или материала
Н/М Обозначение, код ОПП ЕВ ЕН КИ Н. расх.
В 1 005 Очистка подложки
2
Г 3 605124 ОКУ
4
Т 5 БАВнп-01 1, 2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"
Т 6

ТУ 64 – 1 – 37 – 78 Пинцет ПС 160 30

Т 7 ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин
М 8 ОСТ 11.029.003 - 80 Вода деионизированная марки А
Н 9 Склад Л 8 12
М 10 ГОСТ 9293-74 Азот газообразный
Н 11 Склад Л 8 6
Д 12 ADT 976 Установку отмывки OSTEC
13
В 14 010 Контроль качества отмывки
15
Г 16 605124 ОК
17
Т 18 БАВнп-01 1, 2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"
Т 19

ТУ 64 – 1 – 37 – 78 Пинцет ПС 160 30

Т 20 ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин
Д 21 ТУ 3-3.1210-75М Микроскоп инспекционный Nikon Eclipse L200A
22
В 23 015 Нанесение фоторезиста
24
Г 25 605124 ОКУ
26 Уважаемый преподаватель курсовая скачена из интернета и студентом даже не прочитана
Т 27 БАВнп-01 1, 2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"
Т 28

ТУ 64 – 1 – 37 – 78 Пинцет ПС 160 30

Т 30 ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин

Страницы: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8


Новости

Быстрый поиск

Группа вКонтакте: новости

Пока нет

Новости в Twitter и Facebook

  скачать рефераты              скачать рефераты

Новости

скачать рефераты

© 2010.